- DATE
- 2027-05-17 — 2027-05-20
- TIME
- 종일 · 상세 시각 미발표
- TIME ZONE
- Asia/Shanghai
China Standard Time · location derived - LOCATION
- Chongqing · China
- FORMAT
- TBA · Conference
- CATEGORY
- 산업·학회
- ORGANIZER
- IEEE Instrumentation and Measurement Society
- TOPICS
- Test / Reliability · MEMS / Sensors · Manufacturing · AI / HPC
- VERIFICATION
- 발표됨 · official association · 2026-08-18
- NEXT REVIEW
- 2026-09-17
- COVERAGE
- core
2027-05-17 — 2027-05-20 · 발표됨
산업·학회IEEE I2MTC 2027
계측, semiconductor instrumentation, sensors와 AI-assisted measurement를 다루는 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference입니다. venue와 형식은 미발표입니다.

참가자·참관자 가이드
등록부터 현장 이동, 공식 자료와 과거 결과까지. 확인된 링크만 연결하고 미발표 정보는 추정하지 않습니다.
01참가·참관 신청+
별도 신청 URL은 아직 이 기록에서 공식 확인되지 않았습니다. 공식 행사 페이지에서 참가·참관 안내를 확인하세요.
상태: 공식 상태 확인 필요02프로그램·브로슈어·결과+
공식 프로그램 또는 브로슈어는 주최 측이 공개한 경우에만 추가됩니다.
이전 회차 기사·결과 리포트는 출처가 확인되는 대로 아래 아카이브에 연결됩니다.
03행사 프로필·관련 통계+
- 개최 주기
- 개최 주기 공식 확인 대기
- 첫 개최
- 공식 확인 대기
- 회차
- 회차 공식 확인 대기
- 기록 시리즈
- i2mtc
04주요 주제·관심 분야+
아래 키워드는 행사 출처와 VLSI Calendar 분류에 기반한 탐색 태그입니다.
05현장 방문·주변 정보+
Chongqing 주변의 숙소·항공편·관광·맛집을 실시간 검색으로 엽니다. 가격과 이용 가능 여부는 연결된 서비스에서 확인하세요.
이 링크는 방문자 위치를 VLSI Calendar에 전달하지 않습니다. Google 및 각 외부 서비스의 정책이 적용됩니다.- workshop · Special sessionSpecial-session proposal
날짜만 공식 발표
verified date only · checked 2026-08-19OFFICIAL SOURCE ↗ - paper · ResearchPaper submission
날짜만 공식 발표
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날짜만 공식 발표
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날짜만 공식 발표
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날짜만 공식 발표
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날짜만 공식 발표
verified date only · checked 2026-08-19OFFICIAL SOURCE ↗
지난 발표와 VLSI Korea 해설
확인 가능한 과거 회차, 공식 논문집, 참가 가이드·리캡·기술 딥다이브만 연결합니다.
이 행사에 대한 이전 회차 기사·결과 리포트·공식 자료는 아직 출처가 확인된 링크로 기록되지 않았습니다. 추정 링크 대신 주최 측 공식 페이지를 제공합니다.
공식 행사 페이지 ↗필드별 출처 원장
official announced · last checked 2026-08-18identity · dates · location · format · organizer
Retrieved 2026-08-18 ↗PRIMARY · official eventSpecial-session proposal · official deadlinecfp
Retrieved 2026-08-19 ↗SECONDARY · editorialNASA Glenn Research Center · image sourcemedia
Retrieved 2026-08-18 ↗현장 이야기
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