VLSI CALENDARBY VLSI KOREA2026-10-11 — 2026-10-16 · 교차 확인
산업·학회반도체 테스트, DFT, 수율, 품질과 신뢰성 기술을 다루는 대표 국제 학회입니다.
2026-10-11 → 2026-10-16 · San Antonio, TX
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San Antonio, TX, United States
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휴대전화의 eSIM 지원과 통신사 잠금 해제 여부를 확인하세요. 이용 중인 로밍 요금제와 현지 제공 범위를 비교한 뒤 선택하세요.
현지 eSIM 살펴보기 ↗목적에 맞게 검색하고 영업시간, 이동 시간, 단체 예약 가능 여부를 확인하세요.
도시 내 검색 ↗도시 및 인근 지역의 방문 후보입니다. 내 일정에 맞는 이동 시간과 관람 가능 여부를 확인하세요.
도시 내 검색 ↗확인한 견적이나 예상 금액을 같은 통화로 입력하세요. 실시간 가격·환율 계산은 제공하지 않으며, 빈 항목은 합계에서 제외됩니다.
날짜만 나열하지 않습니다. 실제 참가 판단에 필요한 확인된 정보와, 아직 발표되지 않은 정보를 구분합니다.
반도체 테스트, DFT, 수율, 품질과 신뢰성 기술을 다루는 대표 국제 학회입니다.
International Test Conference 2026은 2026-10-11부터 2026-10-16까지 San Antonio, TX, United States에서 열리는 In person Conference입니다. IEEE의 공식 출처를 기준으로 Test / Reliability, Design / EDA 관련 정보를 탐색할 수 있도록 정리했습니다.
등록부터 현장 이동, 공식 자료와 과거 결과까지. 확인된 링크만 연결하고 미발표 정보는 추정하지 않습니다.
별도 신청 URL은 아직 이 기록에서 공식 확인되지 않았습니다. 공식 행사 페이지에서 참가·참관 안내를 확인하세요.
상태: 공식 상태 확인 필요공식 프로그램 또는 브로슈어는 주최 측이 공개한 경우에만 추가됩니다.
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